Rumah > Berita > Berita Industri

Peralatan ujian lanjutan dalam pemprosesan PCBA

2024-09-15

Dalam PCBA (Perhimpunan Papan Litar Bercetak) pemprosesan, peralatan ujian lanjutan adalah alat utama untuk memastikan kualiti dan kebolehpercayaan produk. Dengan peningkatan kerumitan dan keperluan prestasi tinggi produk elektronik, teknologi peralatan ujian juga telah dipertingkatkan secara berterusan untuk memenuhi keperluan ujian yang berubah-ubah. Artikel ini akan meneroka beberapa peralatan ujian lanjutan yang digunakan dalam pemprosesan PCBA, termasuk fungsi, kelebihan dan senario aplikasinya, untuk membantu memahami cara menggunakan peralatan ini untuk meningkatkan kecekapan ujian dan kualiti produk.



1. Sistem Pemeriksaan Optik Automatik (AOI).


Sistem Pemeriksaan Optik Automatik (AOI).ialah peranti yang secara automatik memeriksa kecacatan permukaan papan litar melalui teknologi pemprosesan imej. Sistem AOI menggunakan kamera resolusi tinggi untuk mengimbas papan litar dan secara automatik mengenal pasti kecacatan kimpalan, salah jajaran komponen dan kecacatan permukaan lain.


1. Ciri-ciri fungsian:


Pengesanan berkelajuan tinggi: Ia boleh mengimbas papan litar dengan cepat dan sesuai untuk pengesanan masa nyata pada barisan pengeluaran berskala besar.


Pengenalpastian berketepatan tinggi: Mengenal pasti kecacatan kimpalan dan masalah kedudukan komponen dengan tepat melalui algoritma pemprosesan imej.


Laporan automatik: Hasilkan laporan pemeriksaan terperinci dan analisis kecacatan untuk pemprosesan seterusnya.


2. Kelebihan:


Meningkatkan kecekapan pengeluaran: Pemeriksaan automatik mengurangkan masa dan kos pemeriksaan manual dan meningkatkan kecekapan keseluruhan barisan pengeluaran.


Kurangkan ralat manusia: Elakkan ketinggalan dan ralat yang mungkin berlaku dalam pemeriksaan manual dan meningkatkan ketepatan pemeriksaan.


3. Senario aplikasi: Digunakan secara meluas dalam pemprosesan PCBA dalam bidang elektronik pengguna, elektronik automotif dan peralatan komunikasi.


2. Sistem mata ujian (ICT)


Sistem titik ujian (In-Circuit Test, ICT) ialah peranti yang digunakan untuk mengesan prestasi elektrik setiap titik ujian pada papan litar. Sistem ICT menyemak ketersambungan elektrik dan kefungsian litar dengan menyambungkan probe ujian ke titik ujian pada papan litar.


1. Ciri-ciri fungsian:


Ujian elektrik: Dapat mengesan litar pintas, litar terbuka dan masalah elektrik lain dalam litar.


Fungsi pengaturcaraan: Menyokong pengaturcaraan dan ujian komponen boleh atur cara seperti memori dan mikropengawal.


Ujian Komprehensif: Menyediakan ujian elektrik yang komprehensif untuk memastikan fungsi dan prestasi papan litar memenuhi keperluan reka bentuk.


2. Kelebihan:


Ketepatan tinggi: Mengesan ketersambungan dan kefungsian elektrik dengan tepat untuk memastikan kebolehpercayaan papan litar.


Diagnosis kerosakan: Ia boleh mengesan kerosakan elektrik dengan cepat dan memendekkan masa penyelesaian masalah.


3. Senario aplikasi: Ia sesuai untuk produk PCBA dengan keperluan prestasi elektrik yang tinggi, seperti sistem kawalan industri dan peralatan perubatan.


3. Sistem ujian alam sekitar moden


Sistem ujian alam sekitar moden digunakan untuk mensimulasikan pelbagai keadaan persekitaran untuk menguji kebolehpercayaan papan litar. Ujian persekitaran biasa termasuk ujian kitaran suhu dan kelembapan, ujian getaran dan ujian semburan garam.


1. Ciri-ciri fungsian:


Simulasi alam sekitar: Simulasi keadaan persekitaran yang berbeza, seperti suhu melampau, kelembapan dan getaran, dan uji prestasi papan litar di bawah keadaan ini.


Ujian ketahanan: Nilaikan ketahanan dan kebolehpercayaan papan litar dalam penggunaan jangka panjang.


Rakaman data: Rekod data dan keputusan semasa ujian dan jana laporan ujian terperinci.


2. Kelebihan:


Pastikan kebolehpercayaan produk: Pastikan kestabilan dan kebolehpercayaan papan litar dalam keadaan berbeza dengan mensimulasikan persekitaran penggunaan sebenar.


Optimumkan reka bentuk: Temui masalah yang berpotensi dalam reka bentuk, bantu memperbaik reka bentuk papan litar dan meningkatkan kualiti produk.


3. Senario aplikasi: Digunakan secara meluas dalam bidang yang mempunyai keperluan tinggi untuk kebolehsuaian alam sekitar, seperti aeroangkasa, elektronik ketenteraan dan elektronik automotif.


4. Sistem pemeriksaan sinar-X


Sistem pemeriksaan sinar-X digunakan untuk memeriksa sambungan dan kualiti kimpalan di dalam papan litar, dan amat sesuai untuk mengesan kecacatan kimpalan dalam bentuk pembungkusan seperti BGA (Ball Grid Array).


1. Ciri-ciri fungsian:


Pemeriksaan dalaman: X-ray menembusi papan litar untuk melihat sambungan dan sambungan pateri dalaman.


Pengenalpastian kecacatan: Ia boleh mengesan kecacatan kimpalan tersembunyi seperti sambungan pateri sejuk dan litar pintas.


Pengimejan resolusi tinggi: Menyediakan imej struktur dalaman resolusi tinggi untuk memastikan pengecaman kecacatan yang tepat.


2. Kelebihan:


Ujian tidak merosakkan: Pemeriksaan boleh dilakukan tanpa membuka papan litar, mengelakkan kerosakan pada produk.


Kedudukan yang tepat: Ia boleh mengesan kecacatan dalaman dengan tepat dan meningkatkan kecekapan dan ketepatan pengesanan.


3. Senario aplikasi: Sesuai untuk papan litar berketumpatan tinggi dan kerumitan tinggi seperti telefon pintar, komputer dan peranti perubatan.


Kesimpulan


Dalam pemprosesan PCBA, peralatan ujian lanjutan memainkan peranan penting dalam memastikan kualiti dan kebolehpercayaan produk. Peralatan seperti sistem pemeriksaan optik automatik (AOI), sistem titik ujian (ICT), sistem ujian alam sekitar moden dan sistem pemeriksaan sinar-X mempunyai ciri tersendiri dan boleh memenuhi keperluan ujian yang berbeza. Dengan memilih dan menggunakan peralatan ujian ini secara rasional, syarikat boleh meningkatkan kecekapan ujian, mengurangkan risiko pengeluaran, dan mengoptimumkan reka bentuk produk, dengan itu meningkatkan tahap keseluruhan dan daya saing pasaran pemprosesan PCBA.


X
We use cookies to offer you a better browsing experience, analyze site traffic and personalize content. By using this site, you agree to our use of cookies. Privacy Policy
Reject Accept